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  • Trek 152-1重錘式表面電阻率測(cè)試儀
    Trek 152-1重錘式表面電阻率測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2025-02-12

    型號(hào)：Trek 152-1

    人氣：520

    美國(guó)Trek 152-1 重錘式表面電阻率測(cè)試儀可精確測(cè)量表面或體積電阻。它具有良好的測(cè)量精度和寬廣的測(cè)量范圍。即使在非常高的電阻值下，該儀器也能提供始終如一的易操作性。Trek 152-1 重量輕、便攜，可通過電池或帶有電池消除器的交流線路電源進(jìn)行操作。
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  • GTL-308低電阻測(cè)試儀測(cè)試線
    GTL-308低電阻測(cè)試儀測(cè)試線

    更新時(shí)間：2025-01-03

    型號(hào)：GTL-308

    人氣：501

    低電阻測(cè)試儀測(cè)試線可替代固緯GOM804和GOM805，日置RM3544和RM3545，RM3543，RM3542，RM3542A以及同類的電阻計(jì)，低電阻測(cè)試儀，驗(yàn)證測(cè)試過，沒有問題，放心使用。
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  • RM3545A日置低電阻測(cè)試儀
    RM3545A日置低電阻測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2025-02-18

    型號(hào)：RM3545A

    人氣：1951

    日置低電阻測(cè)試儀RM3545是6位半，1,200,000點(diǎn)顯示，最小分辨率可測(cè)量0.01μΩ的電阻。在變頻器馬達(dá)的線圈檢查等需要高分辨率的電阻測(cè)量等領(lǐng)域游刃有余。在電子零部件方面，多用于導(dǎo)電薄膜/導(dǎo)電橡膠等高電阻材料。RM3545可最大測(cè)量到1200MΩ，具備了最高精度0.006%。
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  • WRK-308低電阻測(cè)試儀測(cè)試線
    WRK-308低電阻測(cè)試儀測(cè)試線

    更新時(shí)間：2025-01-03

    型號(hào)：WRK-308

    人氣：1099

    低電阻測(cè)試儀測(cè)試線可替代固緯GOM804和GOM805，日置RM3544和RM3545，RM3543，RM3542，RM3542A以及同類的電阻計(jì)，低電阻測(cè)試儀，驗(yàn)證測(cè)試過，沒有問題，放心使用。
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  • RM3544日置低電阻測(cè)試儀
    RM3544日置低電阻測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2023-10-23

    型號(hào)：RM3544

    人氣：1255

    日置低電阻測(cè)試儀隨著變頻器電源裝置的大電流化，諧波數(shù)化，回路中所使用的變頻器需要改良得更低電阻以及低損耗，所以需要能夠穩(wěn)定的能夠測(cè)量更低電阻的需求便應(yīng)運(yùn)而生。1μΩ分辨率的RM3544能夠滿足上述要求。在電子零部件方面，多用于導(dǎo)電薄膜/導(dǎo)電橡膠等高電阻材料，最大可對(duì)應(yīng)3.5MΩ。另外，因?yàn)樽罡呔仁?.02%，所以檢查0.1%精度的電流檢測(cè)器也能使用。
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  • RM3545日置低電阻測(cè)試儀
    RM3545日置低電阻測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-07-09

    型號(hào)：RM3545

    人氣：1247

    日置低電阻測(cè)試儀RM3545是6位半，1,200,000點(diǎn)顯示，最小分辨率可測(cè)量0.01μΩ的電阻。在變頻器馬達(dá)的線圈檢查等需要高分辨率的電阻測(cè)量等領(lǐng)域游刃有余。在電子零部件方面，多用于導(dǎo)電薄膜/導(dǎo)電橡膠等高電阻材料。RM3545可最大測(cè)量到1200MΩ，具備了最高精度0.006%。
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  • HP3540B和普低電阻測(cè)試儀
    HP3540B和普低電阻測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2023-10-09

    型號(hào)：HP3540B

    人氣：1181

    HP3540A/ HP3540B和普低電阻測(cè)試儀是和普電子在電阻測(cè)試領(lǐng)域多年的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)下重點(diǎn)推出的一款針對(duì)電纜、材料、分流器等行業(yè)的超低電阻測(cè)試需求的直流電阻測(cè)試儀，具有業(yè)內(nèi)超高精度和高穩(wěn)定性，測(cè)試最小分辨率可達(dá)0. 1 μ Ω。采用脈沖正反向電流測(cè)試模式，相比傳統(tǒng)直流電阻測(cè)試儀在測(cè)試同等小電阻時(shí)僅需十分之一 電流，極大的降低了大電流在測(cè)試過程中對(duì)被測(cè)物發(fā)熱帶來(lái)的測(cè)試誤差。
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  • HP3540A和普低電阻測(cè)試儀
    HP3540A和普低電阻測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2023-10-09

    型號(hào)：HP3540A

    人氣：1090

    HP3540A/ HP3540B和普低電阻測(cè)試儀是和普電子在電阻測(cè)試領(lǐng)域多年的測(cè)試經(jīng)驗(yàn)下重點(diǎn)推出的一款針對(duì)電纜、材料、分流器等行業(yè)的超低電阻測(cè)試需求的直流電阻測(cè)試儀，具有業(yè)內(nèi)超高精度和高穩(wěn)定性，測(cè)試最小分辨率可達(dá)0. 1 μ Ω。采用脈沖正反向電流測(cè)試模式，相比傳統(tǒng)直流電阻測(cè)試儀在測(cè)試同等小電阻時(shí)僅需十分之一 電流，極大的降低了大電流在測(cè)試過程中對(duì)被測(cè)物發(fā)熱帶來(lái)的測(cè)試誤差。
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